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GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
GP200SE 8英寸高低溫探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。GP200SE擁有穩(wěn)定且可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率＜2μm的針座系統(tǒng)，確保扎針的穩(wěn)定性。
硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時(shí)間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測試與提取。$nGP200擁有穩(wěn)定且可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率＜2μm的針座系統(tǒng)，確保扎針的穩(wěn)定性。
GP半自動(dòng)探針臺，GP2000-SE 高低溫探針臺。機(jī)臺可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案?？蓱?yīng)用于I-V/C-V/P-IV測試、1/f噪聲測試、射頻/毫米波測試、功率測試、Load-Pull測試等。
8英寸手動(dòng)探針臺,射頻探針臺,高壓探針臺,MPI 8英寸射頻高低溫手動(dòng)探針臺具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探針系統(tǒng)可提供最大的EMI屏蔽，并允許進(jìn)行低噪聲的器件在片測量，從而可廣泛用于各種應(yīng)用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片級可靠性，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，和大功率。
高壓探針臺通過TS2000-DP，MPI提供了一個(gè)多功能且經(jīng)濟(jì)高效的探針臺，半自動(dòng)|MPI 8英寸高壓探針臺適用于20°C至300°C溫度范圍內(nèi)的晶圓上高功率器件測量，測量能力高達(dá)3 kV（三軸）/ 10 kV（同軸）和600 A（脈沖）。
